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Astrum GD-MS高分辨辉光放电质谱样本
Astrum GD-MS高分辨辉光放电质谱样本Astrum GD-MS 高分辨 辉光放电质谱
来源:法国Cameca公司/CAMECA中国 资料
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定义固体样品分析质量标准
来源:赛默飞色谱与质谱分析 相关产品:赛默飞ELEMENT GD Plus双聚焦辉光放电质谱仪 应用
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高纯钽的辉光放电质谱多元素分析
来源:bluedays 资料
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NexION 300D ICP-MS 反应模式消除Gd2+对血清中Se干扰的优势 Application Note (011184_CHN_01)
血清反应模式消除Gd2+对血清中Se干扰的优势NexION 300D ICP-MS 反应模式消除Gd2+对血清中Se干扰的优势 Application Note (011184_CHN_01)
来源:珀金埃尔默企业管理(上海)有限公司 相关产品: 等离子质谱仪PerkinElmer 应用
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利用 Fast-Flow GD-MS 对金属中的气态元素进行痕量分析
来源:赛默飞色谱与质谱 资料
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全反射X射线荧光(TXRF)对碳化硅等难溶样品检测的优点
来源:利曼中国 相关产品:TX 2000 全反射X荧光光谱仪 应用
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Thermo Scientific iCAP TQ ICP-MS 精确测定金属和合金中的杂质元素
来源:赛默飞色谱与质谱分析 相关产品:赛默飞iCAP™ TQ ICP-MS等离子体质谱仪 应用
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Thermo Scientific iCAP TQ ICP-MS 精确测定金属和合金中的杂质元素
(GD-MS),将金属或合金溶解后测定也是分析杂质元素的一种可行的方法。然而,由于金属是高基体的样品(通常高达 1,000 ppm),因此在有光谱干扰的情况下,检测痕量杂质元素是具有挑战性的。
来源:赛默飞色谱与质谱分析 相关产品:赛默飞ELEMENT 2和 ELEMENT XR 电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS) 应用
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Published papers with GD data
来源:HORIBA科学仪器事业部 应用
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W20220822-003-GD2Cer-分析实验报告
W20220822003GD2Cer分析W20220822003GD2Cer分析实验报告W20220822-003-GD2Cer-分析实验报告
来源:月旭科技(上海)股份有限公司 应用
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重磅!骆初平出任月旭科技总经理
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